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东芝开始出货1200V沟槽栅SiC MOSFET测试样品,助力提升下一代AI数据中心效率

作者:香港通明电子 浏览: 发表时间:2026-05-25 17:04:39

中国上海,2026年5月21日——东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,开始提供1200V沟槽栅SiC MOSFET——“TW007D120E”的测试样品出货。该产品主要面向下一代AI数据中心电源系统,同时也适用于可再生能源相关设备。

 

随着生成式AI快速发展,数据中心的功耗问题日益紧迫。高功率AI服务器的广泛部署以及800V高压直流(HVDC)架构的增加,推动了对更高功率转换效率和更高功率密度电源系统的需求。针对这些需求,东芝开发了TW007D120E,有助于降低功耗并实现电源系统的小型化和更高效率。

 

TW007D120E采用东芝专有的沟槽栅结构,实现了业界领先的单位面积低导通电阻(RDS(on)A)。其更低的导通电阻可降低导通损耗,同时实现更低的开关损耗。与东芝现有产品相比,TW007D120E将RDS(on)A降低了约58%,品质因数(导通电阻×栅漏电荷,即RDS(on)×Qgdd)提高了约52%。这些特性将帮助数据中心电源系统实现高效运行并减少发热,从而提升整体系统效率,有助于提高功率密度并增强功率级的散热性能——这对下一代AI数据中心的功率转换至关重要。

 

东芝计划在2026财年实现TW007D120E的量产,并将继续拓展产品线,包括面向汽车应用的产品开发。凭借这款沟槽栅SiC MOSFET,东芝将助力数据中心及各类工业设备提升能效、降低二氧化碳排放,为低碳社会的实现做出贡献。


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